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合金元素分析儀的應(yīng)用范圍

日期：2025-07-27 21:02

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摘要：合金元素分析儀的應(yīng)用范圍

合金元素分析儀的應(yīng)用范圍

合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)中的特定元素并同時(shí)對(duì)其進(jìn)行量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）和能量（E）來(lái)確定特定元素，并通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定該元素的含量。這樣，XRF 就可以確定物質(zhì)的元素組成。采用元素分析儀可調(diào)波長(zhǎng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)連續(xù)波長(zhǎng)調(diào)整，使產(chǎn)品的應(yīng)用范圍達(dá)到全功能水平。所需波長(zhǎng)可根據(jù)被測(cè)材料元素的要求自動(dòng)設(shè)定，可用于材料及其合金的多種元素分析。
每個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（帶負(fù)電的粒子）在圍繞原子核的軌道上運(yùn)行。并且電子的數(shù)量等于原子核中質(zhì)子（帶正電粒子）的數(shù)量。從元素周期表中原子的數(shù)量，我們可以知道質(zhì)子的數(shù)量。每個(gè)原子序數(shù)對(duì)應(yīng)一個(gè)固定的元素名稱(chēng)，如鐵，元素名稱(chēng)為Fe，原子序數(shù)為26。能量色散X熒光和波長(zhǎng)色散X熒光光譜分析技術(shù)專(zhuān)門(mén)研究并應(yīng)用了活性*里面的三個(gè)電子軌道，即K、L和M。K軌道*靠近原子核，每個(gè)電子軌道對(duì)應(yīng)某個(gè)元素的特定能量層。
在 XRF 分析方法中，從 X 射線發(fā)射管發(fā)出的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣品元素。這些初級(jí)光子包含足夠的能量來(lái)破壞*里面的電子，即 K 層或 L 層。此時(shí)，原子變成不穩(wěn)定的離子。由于電子本能尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入構(gòu)成內(nèi)層的空間。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層時(shí)，它們會(huì)釋放能量，我們稱(chēng)之為二次 X 射線光子。整個(gè)過(guò)程稱(chēng)為熒光輻射。每個(gè)元素的二次射線都有自己的特點(diǎn)。 X射線光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由內(nèi)層和外層在電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中的能量差決定的。例如，鐵原子 Fe 的 Kα 能量約為 6.4 千電子伏特。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)發(fā)出的X射線的數(shù)量或密度，可以用來(lái)衡量該元素的數(shù)量。典型的 XRF 能量分布譜顯示了不同能量下的光子密度分布

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